SCMEM
(service commun de microscopie électronique et de microanalyse X)
Responsable technique : Andrei LECOMTE
Responsable scientifique : Jean CAUZID
Sommaire
Le SCMEM – Service Commun de Microscopie Électronique et de Microanalyse X
Le SCMEM – Service Commun de Microscopie Électronique et de Microanalyse X est :
♦ intégrée au réseau RéGEF,
♦ en cours de labellisation Infra + via la plateforme ANATELo.
GeoRessources a la responsabilité du pilotage du SCMEM, Service Commun historique de Microscopie Électronique et de Microanalyse X de l’Université de Lorraine. Situé à Nancy, le SCMEM est ouvert aux composantes de l’Université de Lorraine et aux personnes extérieures, institutions académiques ou industriels.
Le SCMEM offre un panel d’équipements qui repose sur les interactions électron-matière et rayons X-matière et permettent d’observer et de caractériser des échantillons solides, jusqu’à de très forts grandissements.
Il est possible d’obtenir :
♦ Une information topographique de l’échantillon (imagerie en électrons secondaires SE),
♦ Un contraste chimique (imagerie en électrons rétrodiffusés BSE),
♦ Des images de cathodoluminescence,
♦ Des images de répartition élémentaire (cartographies X),
♦ Des analyses X quantitatives à l’échelle du micromètre,
♦ Des analyses de particules (taille, forme, composition…),
♦ Une caractérisation minéralogique (cartographie minérale, répartition de phases, MLA – Mineral Liberation Analysis)
Expertises techniques
Quelles sont les Expertises techniques du SCMEM ?
♦ Caractérisation de matériaux par microscopie électronique à balayage (MEB)
♦ Cartographie élémentaire et microanalyse X (MEB, microsonde, µXRF)
♦ Minéralogie automatisée au MEB/µXRF
♦ Imagerie haute résolution
Voir toutes les expertises de GeoRessources en Microscopie et Spectroscopies.
Équipements et financeurs
Le SCMEM possède un large panel d’outils d’imagerie ou d’analyse X :
♦ un microscope électronique à balayage (MEB) à effet de champ (cathode froide, Cold-FEG) HITACHI S4800 dédié à l’imagerie à très fort grandissement. Il est couplé à un détecteur à sélection d’énergie (EDS-SDD) et peut être utilisé en transmission (champ clair/champ sombre) grâce à un détecteur STEM.
♦ un MEB à effet de champ (Schottky-FEG) JEOL JSM-7600F dédié à l’analyse quantitative grâce à un couplage EDS 20mm2/WDS Oxford Instruments.
♦ un MEB conventionnel (filament tungstène) TESCAN VEGA 3 LM, couplé à deux détecteurs EDS Bruker XFlash6 30mm2 et un système de cathodoluminescence Gatan ChromaCL2UV. Il est possible de travailler en pression partielle jusqu’à 150 Pa (500 Pa avec changement du diaphragme).
♦ une microsonde de Castaing (electron probe microanalyser, EPMA) CAMECA SXFive TACTIS équipée d’une pointe LaB6, de 5 spectromètres verticaux dont un spectromètre étendu et d’un dispositif de cathodoluminescence.
♦ une microsonde de Castaing CAMECA SX100 équipée d’un canon W et de 5 spectromètres WDS verticaux.
♦ un µ-XRF BRUKER M4 TORNADO équipé d’un tube Rh et de deux détecteurs EDS de 30mm².
Le SCMEM propose également l’accès à la minéralogie automatisée grâce à la solution Bruker AMICS disponible sur MEB ou µXRF, selon les objectifs de l’étude et le type d’échantillons.
Enfin, le service dispose de deux évaporateurs sous vide JEOL JEE-420 et CRESSINGTON 308R utilisés pour la métallisation des échantillons.
Plan d’accès du SCMEM
Le SCMEM – Service Commun de Microscopie Électronique et de Microanalyse X est situé à l’adresse suivante :
Faculté des Sciences et Technologies de Nancy
SCMEM
Porte 3B
54500 Vandoeuvre-lès-Nancy
Coordonnées GPS : 48.6642191121907, 6.159416501041887
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