Micro-XRF

La microfluorescence X permet une analyse localisée d’un échantillon avec une résolution spatiale maximale de l’ordre de 20 µm. Il est possible de détecter les éléments du sodium à l’uranium avec des limites de détection variables : de quelques pourcents pour les éléments les plus légers (sodium) à moins d’une dizaine de ppm pour les éléments les plus sensibles à cette technique (par exemple, le zirconium). Il est également possible de cartographier rapidement des échantillons pluricentimétriques sans préparation préalable (échantillon plan mais pas de polissage ou de métallisation).

Le SCMEM est équipé d’un µXRF Bruker M4 Tornado.

Caractéristiques techniques 

• Tube à rayons X (source Rh) avec optiques polycapillaires pour focaliser le faisceau et obtenir une brillance élevée dans un spot de taille de 100µm ou de 20µm
• Double détecteur Bruker XFlash (type SDD) pour augmenter la vitesse d’acquisition, identifier les pics de diffraction et limiter les effets d’ombrage sur les échantillons non plans
• Analyse à partir du Na sous vide et à partir du K à la pression atmosphérique

Exemples d’applications 

Exemple de cartographie du Mn dans un cristal d’apatite (dimension 3 cm) révélant les bandes de croissance, et permettant de relier certains types d’inclusions fluides aux stades de croissance ou de fissuration du cristal

Exemple de cartographie chimique sur une carotte de 15 cm de longueur (As en rouge, Si en gris, Zn en vert, Cu en jaune, Fe en bleu, S en rose)