SCMEM - Service Commun de Microscopie Électronique et de Microanalyse X
Contact :
► Jean Cauzid, responsable scientifique
Tél. +33 (0)3 72 74 55 76
► Andreï Lecomte, responsable technique
Tél. +33 (0)3 72 74 55 00
La plateforme en video
GeoRessources a la responsabilité du pilotage du SCMEM, service commun historique de microscopie électronique et de microanalyse X de l’Université de Lorraine.
Ce service est ouvert à l’ensemble des composantes de l’Université de Lorraine ainsi qu’aux personnes extérieures, institutions académiques ou industriels.
Il a pour vocation d’offrir un panel d’outils d’analyse reposant sur l’interaction électron-matière :
- un microscope électronique à balayage (MEB) à effet de champ (cathode froide, Cold-FEG) HITACHI S4800 dédié à l’imagerie à très fort grandissement. Il est couplé à un détecteur à sélection d’énergie (EDS-SDD) et peut être utilisé en transmission (champ clair/champ sombre) grâce à un détecteur STEM
- un MEB à effet de champ (Schottky-FEG) JEOL JSM-7600F dédié à l'analyse quantitative grâce à un couplage EDS 20mm2/WDS Oxford Instruments
- un MEB conventionnel (filament tungstène) TESCAN VEGA 3 LM, couplé à un détecteur EDS Bruker XFlash6 30mm2 et un système de cathodoluminescence Gatan ChromaCL2UV. Il est possible de travailler en pression partielle jusqu’à 150 Pa (500 Pa avec changement du diaphragme)
- une microsonde de Castaing CAMECA SX100 avec 5 spectromètres WDS verticaux
- un µ-XRF BRUKER M4 TORNADO équipé d’un tube Rh et de deux détecteurs EDS de 30mm²
Le service dispose également de deux évaporateurs sous vide JEOL JEE-420 et CRESSINGTON 308R utilisés pour la métallisation des échantillons.
Equipement co-financé par l'Union Européenne avec le Fonds Européen de Développement Régional
